説明
dx -2012 sdソフト磁性材料DC測定システム
DC条件下で柔らかい磁気材料を評価するために設計された最先端の自動化されたソリューション。このシステムは、初期透過性（μI）、最大透過性（μm）、飽和フラックス密度（BS）、リマネンス（BR）、強制（HC）、ヒステリシス損失（PU）を含むコア磁気特性の正確な分析を提供します。 R＆D、品質管理、および生産アプリケーションに最適な高度なテクノロジーとユーザー中心の設計を組み合わせています。
重要な機能
- 精度と汎用性
高精度センサーと適応測定技術を利用して、多様な材料タイプで信頼できる結果を確保します。
幅広い測定範囲をサポートし、さまざまなサンプルの形状と磁気特性を収容します。 - 合理化された自動化
インテリジェントコントロールは、手動介入を最小限に抑え、ヒューマンエラーを減らします。
直感的なインターフェイスにより、迅速なパラメーターの構成とテスト開始が可能になり、最小限のトレーニングが必要です。 - 包括的な分析
詳細な材料評価のための完全な磁化曲線とヒステリシスループをキャプチャします。
トランスやインダクタなどのアプリケーションのパフォーマンスの比較と最適化を促進します。 - ユーザーフレンドリーなデザイン
データ管理ツールにより、簡単なストレージ、レポート生成、Excelなどのフォーマットへのエクスポートが可能になります。
B（H）ループ、μ（H）曲線、および動的波形のリアルタイム視覚化により、分析機能が向上します。
コンプライアンスと標準
国際的なプロトコルを順守：GB/T 13012-2008、IEC 60404-4、GJB 937-90、SJ/T 10281-91、およびDC磁気特性評価のIEC 404-7。
ハードウェア機能
- 消滅：低周波AC（<10 Hz) ensures uniform residual magnetism removal for closed-loop samples.
- インパルステクニック：急速な磁場の変化により、磁化曲線と静的ヒステリシスパラメーターの効率的な決定が可能になります。
- 柔軟な構成：オープンソレノイドと特殊な備品のスキャン方法をサポートしています（たとえば、Perstein Squareループなど）。
ソフトウェア機能
- リアルタイム監視：テスト中にI（T）、B（T）、およびB（H）ヒステリシスクラスターを表示します。
- 自動キャリブレーション：精度を向上させるために、スパン係数を動的に調整します。
- データエクスポート：サードパーティのツールとシームレスな統合のために、JPG画像、Excelレポート、およびテキストファイルを生成します。
- クロスプラットフォームの互換性：Windows XP/7/8/10/11で動作し、ほとんどのプリンターをサポートします。
技術仕様
励起源：
- 電源オプション：350VAから2000VA、±50V/40Aまでの出力。
- 安定性：{{{0}}}。0 5％以下解像度：0.1MA – 0.4MA。
データ収集：
- 16-ビットAD/DAコンバーター;最大40 kHzまでのサンプリングレート。
- フラックス解像度：0。0001 MWB;ドリフト<0.001 mWb/min.
強化されたアプリケーション
- 高磁気のモーメント：オプションのEDRモジュールは、測定精度を最大300 EMUまで拡張します。
- AC対DCテスト：動的な動作に焦点を当てたACシステムとは対照的に、静的プロパティ分析に合わせて調整されています。
サービスとサポート
- グローバルロジスティクスネットワークは、最適化された鉄道、道路、または海路を介してタイムリーな配信を保証します。
- 技術支援と購入後のサポートのための専用のカスタマーサービス。
よくある質問
Q1：システムは高磁気モーメントサンプルを処理できますか？
正確な結果（<5 emu) are standard. The EDR upgrade extends precision to 300 emu.
Q2：DCテストはACメソッドとどのように異なりますか？
DCは静的特性（例えば、リマネンス）を評価し、ACは動的応答（例、コア損失）を評価します。
Q3：どのようなソフトウェアの利点が提供されますか？
自動化されたデータ修正、リアルタイムの視覚化、およびマルチフォーマットレポートの合理化分析。
精度と効率のために設計されたDX {-2012 SD SDは、ユーザーがソフト磁気材料のパフォーマンスに関する重要な洞察を解き放つことができます。